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高精度能量色散型X射線熒光光譜儀——SPECTRO XEPOS

更新時間:2024-07-17      點擊次數:277

科學、工業和商業領域的用戶通常采用光譜法分析材料中的不同成分。在許多情況下,主要和次要元素濃度的精確測定是至關重要的。


在傳統觀念當中,常常采用波長色散型X射線熒光光譜儀做這些應用,因為其可以提供所需的精密度。而能量色散型X射線熒光光譜儀常常被認為只能做定性半定量的分析,應用到快篩分析,比如RoHS檢測、固廢回收等領域。


但事實上,能量色散型X射線熒光光譜儀經過這么多年的發展,其精密度已經能與WD-XRF相媲美。特別是SPECTRO分析儀器公司的SPECTRO XEPOS光譜儀。


SPECTRO XEPOS配備強制風冷式的50W端窗X射線管,針對最大能量產生進行了優化。該X射線管配備了厚度、鈷鈀二元合金靶材為主要感興趣元素提供了良好的激發條件。再者,搭配直接激發、偏振激發和通帶濾光片光路系統,針對特定元素進一步激發,提高了靈敏度。


高精度能量色散型X射線熒光光譜儀——SPECTRO XEPOS

圖1. SPECTRO 激發光路系統


我們使用SPECTRO XEPOS對地質礦物樣品(采用熔片法制樣)進行7天35次分析,結果如下表顯示。


重復性試驗結果顯示,就算是Na、Mg、Al、Si等這些“輕"元素,在能量色散型X熒光光譜儀中常常被認為測不好的元素,其精密度都是非常高的。

高精度能量色散型X射線熒光光譜儀——SPECTRO XEPOS

表1.  7天重復性試驗的分析結果


通過測試,SPECTRO XEPOS具備高精密度與準確性,其性能與WD-XRF相當,也能滿足實際的高精度分析的測試需求。